Analysis
Chez SiKEMIA, nous savons que les étapes de caractérisation sont primordiales pour mener à bien un projet de recherche. Nous vous proposons donc de vous accompagner dans cette démarche analytique en mettant à votre service notre expertise ainsi que notre savoir-faire en termes de caractérisations en s’appuyant sur une plateforme complète d’équipements scientifiques performants.
Scientific Equipements
- X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) : Elementary analysis of surfaces
- ToF-SIMS : Molecular analysis of surfaces
- Thermal Analysis (DSC, TGA, DTA) : Change in thermal properties of materials
- Atomic Force Microscopy (AFM)/ Scanning Electron Microscopy (SEM)/ Transmission Electron
- Microscopy (TEM) : Morphology, size, nature of nanomaterials
- Nitrogen Adsorption/Desorption and Brunauer, Emett and Teller (BET) model : Determination
- Specific surface area and porosity of materials
- Dynamic light scattering (DLS) : Size distribution profile of small particles in suspension
- X-ray diffraction (XRD) : Crystalline structure of materials
- Contact angle measurements : Wettability of surfaces & surface energy
- Pycnometry : Determination of density
- Zeta Potential : Surface charge of particles
- 1H, 13C, 19F, 29Si and 31P NMR spectroscopy : structure of the molecule
- Liquid/Gas Chromatography - Mass Spectroscopy : quantitative molecular analysis
- UV-visible- Infrared spectroscopy : Identification of compounds